[发明专利]试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统及试样分析装置的控制方法在审
| 申请号： | 201980007628.5 | 申请日： | 2019-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN111602058A | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 佐伯博司;桃井香充 | 申请（专利权）人： | 普和希控股公司 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/08;G01N37/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 张轶楠;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种试样分析用基板，通过旋转运动进行液体的移送，该试样分析用基板具备：基板，其具有旋转轴；第1保持腔室(26)，其位于基板内，保持稀释液；测定腔室(28)，其位于基板内；至少一种试剂(30)；试剂腔室(29)，其位于基板内，配置有至少一种试剂，并连接于测定腔室；以及第1稀释液路径，其位于基板内，将第1保持腔室和测定腔室或者试剂腔室连接。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 用基板 装置 系统 控制 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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