[发明专利]数据处理装置、方法、以及半导体制造装置在审
| 申请号： | 201980005415.9 | 申请日： | 2019-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN112654982A | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 石黑正贵 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G06F17/18 | 分类号： | G06F17/18;G06N20/00;G06K9/62 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 柯瑞京 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供消除模型式制成时的过学习抑制与计算负担抑制的此消彼长的数据处理装置。数据处理装置具备记录电子数据的记录部和使用电子数据进行运算的运算部，运算部具备用在运算中的特征量选择部，特征量选择部在特征量选择中具备：第一步骤(S101)，对特征量排位次，从上位的特征量起进行重排；第二步骤(S103)，按照位次来制成多个仅利用一部分特征量的数据群；第三步骤(S104)，使用仅利用一部分特征量的各个数据群来计算成为对回归或分类问题的预测性能进行评价的指标的值；第四步骤(S105)，根据计算出的预测性能指标来删除特征量；和第五步骤(S106)，关于删除的所述特征量以外的特征量，使用预测性能指标来更新特征量的位次，重复进行第二步骤到第五步骤，直到第三步骤中计算出的预测性能指标的最佳的值不再更新为止(S102)。 | ||
| 搜索关键词： | 数据处理 装置 方法 以及 半导体 制造 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术，未经株式会社日立高新技术许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980005415.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
