[实用新型]一种测试PIM用的治具有效
申请号: | 201922433221.9 | 申请日: | 2019-12-30 |
公开(公告)号: | CN212483624U | 公开(公告)日: | 2021-02-05 |
发明(设计)人: | 郭珍云;周大伟 | 申请(专利权)人: | 深圳市博敏电子有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 陆薇薇 |
地址: | 518103 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种测试PIM用的治具,包括有活动架,所述活动架的上端固定安装有电动推杆,所述电动推杆的活塞杆贯穿活动架的上端,且所述电动推杆的活塞杆的一端固定连接有防护盘,所述活动架的内部开设有螺纹孔,所述螺纹孔的内部螺纹连接有螺杆,所述螺杆的一端与测试座的上端相连接,所述测试座的内部开设有测试腔,所述测试座的一侧设置有第一射频同轴连接器,且所述测试座的一侧还设置有第二射频同轴连接器。本实用新型通过使用测试座上可以升降移动的防护盘,可以有效的保证测试样品的安全性,同时使用螺杆升降活动架,可以使得治具可以适应不同高度大小的测试样品,提高了使用时的实用性。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 pim | ||
【主权项】:
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