[实用新型]一种测试PIM用的治具

说明书

本实用新型公开了一种测试PIM用的治具，包括有活动架，所述活动架的上端固定安装有电动推杆，所述电动推杆的活塞杆贯穿活动架的上端，且所述电动推杆的活塞杆的一端固定连接有防护盘，所述活动架的内部开设有螺纹孔，所述螺纹孔的内部螺纹连接有螺杆，所述螺杆的一端与测试座的上端相连接，所述测试座的内部开设有测试腔，所述测试座的一侧设置有第一射频同轴连接器，且所述测试座的一侧还设置有第二射频同轴连接器。本实用新型通过使用测试座上可以升降移动的防护盘，可以有效的保证测试样品的安全性，同时使用螺杆升降活动架，可以使得治具可以适应不同高度大小的测试样品，提高了使用时的实用性。

技术领域

本实用新型涉及PIM测试技术领域，具体为一种测试PIM用的治具。

背景技术

无源互调（PIM）与有源互调相类似，只是无源互调是无源器件产生的。只要在一个射频导体中同时存在两个或两个以上RF信号，就会产生互调。当器件中存在一个以上的频率时，任何无源器件都会产生无源互调产物。由于不同材料的连接处的具有非线性，信号会在结点混合。典型地，其奇数阶互调产物会落在基站的上行或接收频段内，成为干扰接收机工作的信号。它会造成随机底噪的接收机减敏现象，同时在无源非线性器件中混合而产生的杂散信号，会对现代大功率、多通道通信系统造成严重的干扰。

镀层材料的无源互调测试，主要基于实验室特定环境，但是在对样品进行测试时往往没有合适的工具进行辅助工作，容易对样品在多次使用中产生损坏，继而影响测试工作。因此，我们需要一种测试PIM用的治具。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试PIM用的治具，通过使用测试座上可以升降移动的防护盘，可以有效的保证测试样品的安全性，同时使用螺杆升降活动架，可以使得治具可以适应不同高度大小的测试样品，提高了使用时的实用性，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种测试PIM用的治具，包括有活动架，所述活动架的上端固定安装有电动推杆，所述电动推杆的活塞杆贯穿活动架的上端，且所述电动推杆的活塞杆的一端固定连接有防护盘，所述活动架的内部开设有螺纹孔，所述螺纹孔的内部螺纹连接有螺杆，所述螺杆的一端与测试座的上端相连接，所述测试座的内部开设有测试腔，所述测试座的一侧设置有第一射频同轴连接器，且所述测试座的一侧还设置有第二射频同轴连接器。

优选的，所述测试座的上端一体化设置有固定座，所述固定座的上端设置开有凹槽，所述凹槽的底部固定安装有轴承，所述轴承与螺杆的一端转动连接。

优选的，所述固定座的上端开设有插槽，且所述插槽的内部表面上胶接有防滑橡胶层。

优选的，所述测试座的底部固定连接有固定板，所述固定板的底部固定连接有底座，所述底座的底面上胶接有减震橡胶垫，且所述减震橡胶垫的底部一体化设置有防滑橡胶凸起块。

优选的，所述固定板的一侧固定安装有PIM分析仪，所述PIM分析仪通过导线分别与第一射频同轴连接器及第二射频同轴连接器电性连接。

优选的，所述防护盘设置为圆形，且所述防护盘的一端与插槽活动插接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过使用测试座上可以升降移动的防护盘，可以有效的保证测试样品的安全性，同时使用螺杆升降活动架，可以使得治具可以适应不同高度大小的测试样品，提高了使用时的实用性。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的局部剖面结构示意图；

图3为本实用新型图2中A区的放大结构示意图。