[实用新型]一种芯片的烧录测试治具有效

专利信息
申请号: 201922335435.2 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN211698069U 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 郭森;王炼;谭骥;冯志强 申请(专利权)人: 深圳市韶音科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 瞿璨
地址: 518108 广东省深圳市宝安区石岩*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开一种芯片的烧录测试治具,测试治具包括:测试盒,测试盒的第一表面设置有芯片的放置区域,放置区域形成有多个测试孔;测试探头,设置于测试盒的内部,可由测试孔伸出,以接触位于放置区域的芯片;烧录架,设置在测试盒的第一表面;烧录探头,对应放置区域活动设置于烧录架,相对烧录架活动靠近测试盒的第一表面,以接触位于放置区域的芯片。可先控制烧录探头靠近测试盒的第一表面,以接触放置区域的芯片,对芯片进行烧录,在烧录完成后,控制测试探头从测试孔伸出,以接触位于放置区域的芯片,对芯片进行功能测试,调试下载后的程序,从而在一个治具上即可实现烧录和测试过程,工作效率高。
搜索关键词: 一种 芯片 测试
【主权项】:
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