[实用新型]一种用于XRD测试设备的自控升温装置有效
| 申请号： | 201922139548.5 | 申请日： | 2019-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN211741125U | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 夏阳;蔡鹏;张文魁;郭锐;黄辉;甘永平;张俊;梁初;贺馨平 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G05D23/30 |
| 代理公司： | 杭州赛科专利代理事务所(普通合伙) 33230 | 代理人： | 冯年群 |
| 地址： | 310014 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用性公开了一种用于XRD测试设备的自控升温装置，其技术方案要点是包括样品台、设置于样品台下端的自控温加热层和内嵌于自控温加热层的热电偶；所述自控温加热层包括从上至下依次设置的绝缘层、发热层、电极层和保护层，所述电极层的侧部设有第一连接件，所述热电偶的侧部设有第二连接件；所述样品台上端设有样品槽。本实用新型结构简单，操作方便,测试温度范围为室温至600℃，适用于目前常见的Bruker D8‑Advance和日本理学D/max2200VPC等型号的X射线衍射仪。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 xrd 测试 设备 自控 升温 装置 | ||
【主权项】：
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