[实用新型]一种点测机不下片针压测试治具机构有效

专利信息
申请号: 201921897524.X 申请日: 2019-11-05
公开(公告)号: CN211318666U 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 陈江聪;曹锋;管洪勇 申请(专利权)人: 吉安市木林森半导体材料有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/44;G01R1/04;G01M11/02
代理公司: 上海微策知识产权代理事务所(普通合伙) 31333 代理人: 谭慧
地址: 343000 江西省吉安*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 实用新型涉及LED芯片检测设备技术领域,具体涉及到一种点测机不下片针压测试治具机构。包括电子秤、滑块、导轨、磁力底座;所述磁力底座上固定设置有导轨底座;所述滑块与所述导轨底座通过导轨活动连接;所述滑块固定设置在机架上;所述导轨底座上固定设置有固定座;所述滑块上设置有挡块;所述固定座上设置有丝杆,所述丝杆通过旋转顶住所述挡块,从而带动滑块上下移动。本实用新型中将磁力底座固定到测试机平台,左右扭动设置在丝杆上端的平台升降旋钮螺母,丝杆顶住设置在滑块上的挡块,从而使滑块在导轨上带动放置在秤底座上的电子秤上下移动,实现自由升降测试针压,可以在任何时候都能对探针进行测试,不需要下片,提升品质和效率。
搜索关键词: 一种 点测机不 下片 测试 机构
【主权项】:
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