[实用新型]一种点测机不下片针压测试治具机构

说明书

本实用新型涉及LED芯片检测设备技术领域，具体涉及到一种点测机不下片针压测试治具机构。包括电子秤、滑块、导轨、磁力底座；所述磁力底座上固定设置有导轨底座；所述滑块与所述导轨底座通过导轨活动连接；所述滑块固定设置在机架上；所述导轨底座上固定设置有固定座；所述滑块上设置有挡块；所述固定座上设置有丝杆，所述丝杆通过旋转顶住所述挡块，从而带动滑块上下移动。本实用新型中将磁力底座固定到测试机平台，左右扭动设置在丝杆上端的平台升降旋钮螺母，丝杆顶住设置在滑块上的挡块，从而使滑块在导轨上带动放置在秤底座上的电子秤上下移动，实现自由升降测试针压，可以在任何时候都能对探针进行测试，不需要下片，提升品质和效率。

技术领域

本实用新型涉及LED芯片检测设备技术领域，具体涉及到一种点测机不下片针压测试治具机构。

背景技术

随着科技的高速发展，LED芯片体积越做越小而市场需求越来越大，目前正被迅速普及的LED照明灯具，其发光主体就是形形色色的LED芯片。产品的生产离不开检测，大规模生产的芯片只能依靠全自动点测机进行检测。

芯片检测工序，就是先对芯片通电，然后用点测机测出芯片各种电性参数或光学参数。对芯片通电的方法是用探针针尖抵住芯片的电极，然后给探针接上电源。芯片点分厂点测机在测试过程中，同一张圆片测试到中途时，因为探针磨损导致针痕异常或者维修针座需要更换探针测试针压，下片需要将芯片重测费时损耗物料，本人研制一个测试针压的治具，测试中途更换探针不需下片，可以测试针压。

实用新型内容

针对上述技术问题，本实用新型提供了一种点测机不下片针压测试治具机构，包括电子秤、滑块、导轨、磁力底座；所述磁力底座上固定设置有导轨底座；所述滑块与所述导轨底座通过导轨活动连接；所述滑块固定设置在机架上；所述电子秤设置在秤底座上；所述秤底座固定设置在所述机架上。

作为一种优选技术方案，所述导轨底座上固定设置有固定座；所述滑块上设置有挡块；所述固定座上设置有丝杆，所述丝杆通过旋转顶住所述挡块，从而带动滑块上下移动。

作为一种优选技术方案，所述丝杆的上端设置有旋钮螺母。

作为一种优选技术方案，所述磁力底座固定设置在测试机平台。

作为一种优选技术方案，所述电子秤上设置有显示屏、开关按钮、去皮按钮、计数按钮和单位按钮。

本申请与现有的各类治具，如吸盘式治具等相比有如下优点：

(1)本实用新型中将磁力底座固定到测试机平台，左右扭动设置在丝杆上端的平台升降旋钮螺母，丝杆顶住设置在滑块上的挡块，从而使滑块在导轨上带动放置在秤底座上的电子秤上下移动，实现自由升降测试针压，可以在任何时候都能对探针进行测试，不需要下片，提升品质和效率。

(2)本实用新型中的测试镇压治具有具操作简便易行，容易防护维修，使用寿命长等特点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型中点测机不下片针压测试治具机构的结构示意图。

图2为本实用新型中点测机不下片针压测试治具机构的俯视结构示意图。

图3为本实用新型中点测机不下片针压测试治具机构的左视结构示意图。

其中：1-秤底座、2-电子秤、3-机架、4-丝杆、5-旋钮螺母、6-磁力底座、7-导轨底座、8-固定座、9-挡块、10-显示屏、11-滑块、12-去皮按钮、13-计数按钮、14-单位按钮、15-开关按钮、16-导轨。