[实用新型]一种COC芯片光谱测试装置有效
| 申请号： | 201921848426.7 | 申请日： | 2019-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN211905578U | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 张振峰;杨国良;邱德明 | 申请（专利权）人： | 武汉盛为芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01N21/31 |
| 代理公司： | 武汉红观专利代理事务所(普通合伙) 42247 | 代理人： | 李季 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种COC芯片光谱测试装置，包括温控测试台和光谱仪，所述温控测试台顶部设置有热沉，所述热沉顶部设置有工装，所述工装顶部设置有芯片，所述工装一侧设置有焊盘G，所述热沉顶部靠近所述焊盘G一侧设置有焊盘S。有益效果在于：本实用新型通过设置激励电源盒和射频探针，可实现电流调制和电压调制两种模式，提高了设备检测芯片的种类，同时通过激励电源盒模拟更多的使用应用情况，提高了产品的测试精度，降低了产品不良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 coc 芯片 光谱 测试 装置 | ||
【主权项】：
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