[实用新型]一种垂直发光芯片测试及外观检验装置有效
| 申请号： | 201921847127.1 | 申请日： | 2019-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN211373534U | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 张振峰;杨国良;邱德明 | 申请（专利权）人： | 武汉盛为芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 武汉红观专利代理事务所(普通合伙) 42247 | 代理人： | 李季 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种垂直发光芯片测试及外观检验装置，包括底座、支撑板和导杆，所述底座上侧通过螺栓连接有所述支撑板，所述底座另一侧设置有所述导杆，所述支撑板上侧设置有一号电动推杆，所述一号电动推杆一端设置有滑块。有益效果在于：本实用新型通过设置的步进电机、滑环、转轴、测试平台和放置台，使得芯片从放置在测试台上后，自动通过位置调整，然后移动到待检验区域，不需要人工进行操作，简化检验步骤，提高检验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 垂直 发光 芯片 测试 外观 检验 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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