[实用新型]一种芯片测试探针装置有效
| 申请号： | 201921847126.7 | 申请日： | 2019-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN211905577U | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 张振峰;杨国良;邱德明 | 申请（专利权）人： | 武汉盛为芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073;G01R1/04 |
| 代理公司： | 武汉红观专利代理事务所(普通合伙) 42247 | 代理人： | 李季 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试探针装置，包括底座、步进电机和导向杆，所述底座上端一侧通过螺栓连接有所述步进电机，所述步进电机的传动输出端通过键连接有丝杆，所述丝杆一侧设置有与所述底座插接的所述导向杆，所述导向杆上滑动连接有升降板。有益效果在于：本实用新型通过设置步进电机、丝杆、导向杆和升降板，使探针电路板可快速进行升降，进而使测试探针能够快速与芯片接触，提高测试效率，通过设置探针电路板和固定块，使装置一次可通过多根测试探针对芯片进行多点测试，测试效率更高，十分实用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 探针 装置 | ||
【主权项】：
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