[实用新型]接触时间测量装置和冲击实验装置有效
| 申请号： | 201921792874.X | 申请日： | 2019-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN211043955U | 公开（公告）日： | 2020-07-17 |
| 发明（设计）人： | 董建青 | 申请（专利权）人： | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G04F10/04 | 分类号： | G04F10/04;G01P21/00;G01M7/08 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 310012*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了接触时间测量装置和冲击实验装置。该接触时间测量装置包括：质量块和导电板，所述质量块从所述导电板上方的预定高度自由落体跌落至与所述导电板接触；电压源和电阻，所述电压源的负极与所述导电板连接且接地，所述电压源的正极连接所述电阻的第一端，所述电阻的第二端通过导线连接所述质量块；以及脉冲测量装置，与所述电阻的第二端相连接，所述质量块与所述导电板接触时产生冲击脉冲，所述脉冲测量装置获得所述冲击脉冲，根据所述冲击脉冲的宽度获得所述质量块与所述导电板的接触时间。根据测得的接触时间计算质量块自由落体跌落到导电板时的反向冲击加速度，从而获得一个比较准确的高G冲击环境。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 时间 测量 装置 冲击 实验 | ||
【主权项】：
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