[实用新型]一种光电子器件频率响应的测试装置有效
| 申请号： | 201921694321.0 | 申请日： | 2019-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN211014377U | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 孙同勋 | 申请（专利权）人： | 武汉德威汉克光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖开发区华师园路5*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及光电子器件技术领域，且公开了一种光电子器件频率响应的测试装置，该装置通过电机转动，电机带动齿轮转动，齿轮在转动时带动齿条向右运动，而齿条是固定安装在平台的内部，齿条带动平台向右运动，平台带动放置板与左固定块向右运动，放置板与左固定块带动光电子器件向右运动，再通过滑块与滑槽的配合使用，光电子器件将进入右固定块的固定槽内部，该装置，通过气缸向下运动，气缸带动弹簧套筒向下运动，弹簧套筒带动金属探头向下运动，金属探头带动金属片向下运动，金属片与光电子器件接触，再通过弹簧底部连接的导线与频率响应检测器相互配合使用，从而达到能自动检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电子 器件 频率响应 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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