[实用新型]一种光电子器件频率响应的测试装置有效

专利信息
申请号: 201921694321.0 申请日: 2019-10-11
公开(公告)号: CN211014377U 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 孙同勋 申请(专利权)人: 武汉德威汉克光电科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430000 湖北省武汉市东湖开发区华师园路5*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电子 器件 频率响应 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种光电子器件频率响应的测试装置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部分别固定安装有支撑柱(2)与右固定块(11),所述底座(1)的顶部开设有滑槽(22),两个所述支撑柱(2)的顶部固定安装有横杆(3),所述横杆(3)的顶部分别固定安装有支架(4)与频率响应检测器(9),所述支架(4)的内部固定安装有气缸(5),所述气缸(5)的输出轴固定安装有弹簧套筒(6),所述弹簧套筒(6)的底部固定安装有金属探头(7),所述金属探头(7)的底部活动安装有金属片(8),所述滑槽(22)的内部滑动连接有滑块(12),所述滑块(12)的顶部固定连接有平台(13),所述平台(13)的顶部分别固定安装有左固定块(16)与弹簧(21),所述弹簧(21)的顶部固定安装有放置板(14),所述放置板(14)的顶部活动连接有光电子器件(15),所述左固定块(16)的表面开设有固定槽(17),所述底座(1)的内部固定安装有电机(10),所述电机(10)的输出轴固定安装有齿轮(19),所述平台(13)的底部开设有运动槽(18),所述运动槽(18)的内壁固定安装有齿条(20)。

2.根据权利要求1所述的一种光电子器件频率响应的测试装置,其特征在于:所述支架(4)采用框架的形式呈现。

3.根据权利要求1所述的一种光电子器件频率响应的测试装置,其特征在于:所述横杆(3)的内部开设有与弹簧套筒(6)直径相等的通孔。

4.根据权利要求1所述的一种光电子器件频率响应的测试装置,其特征在于:所述右固定块(11)的表面同样开设有固定槽(17)。

5.根据权利要求1所述的一种光电子器件频率响应的测试装置,其特征在于:所述固定槽(17)的直径与光电子器件(15)的宽度相等。

6.根据权利要求1所述的一种光电子器件频率响应的测试装置,其特征在于:所述频率响应检测器(9)与放置板(14)之间有导线连接。

7.根据权利要求1所述的一种光电子器件频率响应的测试装置,其特征在于:所述齿轮(19)与齿条(20)之间啮合连接。

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