[实用新型]用于磁约束聚变装置中的双膜软X射线荧光高速成像系统有效

专利信息
申请号: 201921649266.3 申请日: 2019-09-30
公开(公告)号: CN210864056U 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 张森;兰涛;毛文哲 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G01T1/34;G01K11/20;G21B1/23
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤宝平
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型提供了一种用于磁约束聚变装置中的双膜软X射线荧光高速成像系统,包括:探测器和高速可见光相机;其中,所述探测器包括:探测器腔体;小孔,设于所述探测器腔体的第一端部;薄膜,设于所述小孔上;微通道板MCP,被置于所述探测器腔体内,并且面对所述小孔;荧光屏,被置于所述探测器腔体内,并且面对所述微通道板MCP;成像时,软X射线穿透所述小孔,透过所述薄膜,照射在所述微通道板MCP上,软X射线经过所述微通道板MCP后到达所述荧光屏上,所述荧光屏上的可见光射出所述探测器腔体,而后聚焦到所述高速可见光相机上。本实用新型提高了X射线探测成像的速度,并且可获得软X射线的辐射剖面和温度信息。
搜索关键词: 用于 约束 聚变 装置 中的 双膜软 射线 荧光 高速 成像 系统
【主权项】:
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