[实用新型]用于磁约束聚变装置中的双膜软X射线荧光高速成像系统有效
申请号: | 201921649266.3 | 申请日: | 2019-09-30 |
公开(公告)号: | CN210864056U | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 张森;兰涛;毛文哲 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29;G01T1/34;G01K11/20;G21B1/23 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤宝平 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种用于磁约束聚变装置中的双膜软X射线荧光高速成像系统,包括:探测器和高速可见光相机;其中,所述探测器包括:探测器腔体;小孔,设于所述探测器腔体的第一端部;薄膜,设于所述小孔上;微通道板MCP,被置于所述探测器腔体内,并且面对所述小孔;荧光屏,被置于所述探测器腔体内,并且面对所述微通道板MCP;成像时,软X射线穿透所述小孔,透过所述薄膜,照射在所述微通道板MCP上,软X射线经过所述微通道板MCP后到达所述荧光屏上,所述荧光屏上的可见光射出所述探测器腔体,而后聚焦到所述高速可见光相机上。本实用新型提高了X射线探测成像的速度,并且可获得软X射线的辐射剖面和温度信息。 | ||
搜索关键词: | 用于 约束 聚变 装置 中的 双膜软 射线 荧光 高速 成像 系统 | ||
【主权项】:
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