[实用新型]一种芯片自动垂直下压测试治具有效
| 申请号： | 201921449420.2 | 申请日： | 2019-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN210720496U | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 张军笑;唐坤长 | 申请（专利权）人： | 深圳市涌固精密治具有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 梁炎芳;谭雪婷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片自动垂直下压测试治具，包括上盖、本体、浮动框、针座、薄片、两转压板以及若干转压弹簧，上盖位于本体上方，转压弹簧位于上盖与本体之间，转压板分别位于本体的转压槽中，转压板中部通过第一转轴与本体连接，转压板第一端通过第二转轴与上盖连接，浮动框顶部位于中心镂空槽中，浮动框底部位于针座上，针座位于薄片上。本实用新型通过设置上盖和本体，在上盖和本体之间设置转压弹簧，上盖与本体上连接转压板，转压弹簧可自动将上盖顶起，而使转压板自动第二端自动下压，转压板第二端将浮动框中的芯片模组下压与探针接触，探针将芯片与外部测试设备连通，进行芯片测试，测试精度高，成本低，操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 自动 垂直 下压 测试 | ||
【主权项】：
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