[实用新型]用于晶体元件的温度冲击试验装置

摘要

本实用新型涉及一种用于晶体元件的温度冲击试验装置，包括机壳、高、低温室、电气控制系统、制冷系统、提篮、升降机构，其技术要点是：高、低温室的后部分别设有热风循环轴流风机和冷风循环轴流风机，高温室内部左、右两侧分别设有与热风循环轴流风机的安装室连通的左、右加热腔室，左、右加热腔室靠近高温室门侧的位置纵向设有热风排风口；低温室内部左、右两侧分别设有与冷风循环轴流风机的安装室连通的左、右冷却腔室，左、右冷却腔室靠近低温室门侧的位置纵向设有冷风排风口。其结构简单、使用可靠，保证高温室、低温室的测试温度快速均匀且恒定，同时也适用于有加电测试需求的产品试验。