[实用新型]耐久性测试装置有效
| 申请号： | 201921282309.9 | 申请日： | 2019-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN209980793U | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 张新龙;王浩宾;郝清山 | 申请（专利权）人： | 上海亿存芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 31286 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 黄海霞 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种耐久性测试装置，包括上位机和下位机组，所述上位机和所述下位机组连接，所述下位机组包括承载器件和n个下位机，每个所述下位机均包括控制模块、存储模块、地址选择模块和m个检测连接模块，所述存储模块、所述地址选择模块、m个所述检测连接模块和所述上位机均与所述控制模块连接，且所述控制模块与所述承载器件连接，m和n均为大于0的自然数。所述耐久性测试装置中，所述下位机组包括n个下位机，所述下位机包括m个所述检测连接模块，m个所述检测连接模块能够使所述耐久性测试装置同时与多个待测存储器件连接，从而实现多个待测存储器件的同时检测，提高检测的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 连接模块 下位机组 下位机 检测 耐久性测试装置 控制模块 上位机 地址选择模块 待测存储器 承载器件 存储模块 本实用新型 | ||
【主权项】：
1.一种耐久性测试装置，其特征在于，包括上位机和下位机组，所述上位机和所述下位机组连接，所述下位机组包括承载器件和n个下位机，每个所述下位机均包括控制模块、存储模块、地址选择模块和m个检测连接模块，所述存储模块、所述地址选择模块、m个所述检测连接模块和所述上位机均与所述控制模块连接，且所述控制模块与所述承载器件连接，m和n均为大于0的自然数。/n
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