[实用新型]一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱有效
| 申请号： | 201921185233.8 | 申请日： | 2019-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN210465575U | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 唐雄华;宋薇薇 | 申请（专利权）人： | 赫顶（天津）工业技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;H05K7/20 |
| 代理公司： | 天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙) 12217 | 代理人： | 高正方 |
| 地址： | 300380 天津市西青区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱，具体涉及电子产品测试领域，包括测试箱体和阻隔板，所述承载盘的内部均设置有多个阻隔板，每个所述阻隔板的一端中间位置均设置有滚珠，所述滚珠滚动设置于滑槽中，所述滑槽设置于承载盘的内侧壁上，所述阻隔板的另一端中间位置固定设置有连接件，所述连接件的一端固定设置在转轴的一侧，所述转轴的两端均转动设置于固定块上，所述承载盘和阻隔板上均间隔均匀的设置有若干个通风孔。本实用新型能够调节阻隔板的位置，从而能够改变相邻两个阻隔板之间形成储物槽的大小，便于同种类型不同大小的电子产品在测试箱中进行检测，提高了装置的工作效率和功能性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 受热 均匀 电子产品 制造 老化 测试 | ||
【主权项】：
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