[实用新型]一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱

权利要求书

1.一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱，包括测试箱体（1）和移动轮（2），所述移动轮（2）安装于测试箱体（1）的底端，其特征在于：所述测试箱体（1）的顶端通过螺钉固定安装有驱动电机（3），所述驱动电机（3）的输出轴固定连接有旋转杆（4），所述旋转杆（4）的一端穿过测试箱体（1）的顶端侧壁，并设置于测试箱体（1）的内部，所述旋转杆（4）位于测试箱体（1）内部的一端间隔均匀的设置有若干个承载盘（5），每个所述承载盘（5）的内部均设置有多个阻隔板（6），每个所述阻隔板（6）的一端中间位置均设置有滚珠（7），所述滚珠（7）滚动设置于滑槽（8）中，所述滑槽（8）设置于承载盘（5）的内侧壁上，所述阻隔板（6）的另一端中间位置固定设置有连接件（9），所述连接件（9）的一端固定设置在转轴（10）的一侧，所述转轴（10）的两端均转动设置于固定块（11）上，所述承载盘（5）和阻隔板（6）上均间隔均匀的设置有若干个通风孔（12），所述测试箱体（1）的内部下端固定设置有密封板（13），所述密封板（13）的下端固定设置有压缩机（14），所述压缩机（14）的输出端连接有输风管（15），所述输风管（15）的一端设置于测试箱体（1）的内侧壁中，所述输风管（15）上间隔均匀的设置有若干个输风支管（16），所述输风支管（16）的一端设置于测试箱体（1）的内侧壁上，所述输风支管（16）的下端固定安装有风扇（17）。

2.根据权利要求1所述的一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱，其特征在于：所述移动轮（2）设置有四个，分别位于测试箱体（1）的底端四个边角处，所述移动轮（2）上均设置有锁紧机构。

3.根据权利要求1所述的一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱，其特征在于：所述测试箱体（1）的外端一侧通过合页（18）铰接有箱门（19），且所述箱门（19）与测试箱体（1）的接触处设置有密封圈。

4.根据权利要求1所述的一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱，其特征在于：所述测试箱体（1）的侧壁内部设置有绝热材料。

5.根据权利要求1所述的一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱，其特征在于：所述固定块（11）的上端设置有紧固螺栓（20），所述紧固螺栓（20）的底端与转轴（10）的顶端接触设置。

6.根据权利要求1所述的一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱，其特征在于：所述输风支管（16）和风扇（17）的数量和承载盘（5）的数量相同，所述输风支管（16）的开口朝下。

7.根据权利要求1所述的一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱，其特征在于：所述承载盘（5）和阻隔板（6）均采用耐高温材料制作而成。

8.根据权利要求1所述的一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱，其特征在于：所述测试箱体（1）的内部设置有蓄电池（21），所述蓄电池（21）通过导线连接外接电源。