[实用新型]一种45度滤波片偏光测量工具

摘要

一种45度滤波片偏光测量工具，包括：一对臂，一个臂一端与另一个臂一端垂直连接构成臂架；第一孔板和第二孔板，间隔设于一个臂，第一孔板的通孔和第二孔板的通孔位于第一直线，第一直线与该臂的长度方向平行；光源发射器，设于一个臂，光源发射器出光光线与第一直线共线，位于与臂架平行的第一平面；刻度板，设于另一个臂，刻度板的刻度面法向中心线位于第一平面，与第一直线垂直；放置台，用于放置待测物，待测物内具有45度滤波片；当待测物放置于放置台时，45度滤波片中心位于第一直线与刻度面法向中心线相交处。在产品滤波片组装完成后进行反射角度检测，避免不合格的产品流入下一工站造成连带的报废，测量方便快捷，准确判断偏光角度。

主权项

1.一种45度滤波片偏光测量工具，其特征在于，包括：/n臂架，包括一对臂（21），一个所述臂（21）一端与另一个所述臂（21）一端垂直连接；/n第一孔板（22）和第二孔板（23），间隔设于一个所述臂（21），所述第一孔板（22）的通孔和所述第二孔板（23）的通孔位于第一直线，所述第一直线与该所述臂（21）的长度方向平行；/n光源发射器（41），设于一个所述臂（21），所述光源发射器（41）出光光线与所述第一直线共线，且位于与所述臂架平行的第一平面；/n刻度板（42），设于另一个所述臂（21），所述刻度板（42）的刻度面法向中心线位于所述第一平面，且与所述第一直线垂直；/n放置台（11），用于放置待测物，所述待测物内具有45度滤波片；/n当所述待测物放置于所述放置台（11）时，所述45度滤波片中心位于所述第一直线与所述刻度面法向中心线相交处。/n