[实用新型]集成电路测试仪有效
| 申请号： | 201920626868.0 | 申请日： | 2019-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN210051856U | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 冯长江;段荣霞;李楠;郎宾;黄天辰;刘美全;濮霞;陶炳坤 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军陆军工程大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 13128 石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 王占华 |
| 地址： | 050000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路测试仪，涉及芯片测试装置技术领域。所述测试仪包括单片计算模块，存储模块通过存储空间分配器与所述计算模块双向连接；I/O扩展模块与所述计算模块双向连接；地址产生模块的第一输入端与的输入端与所述计算模块的输出端连接，所述地址产生模块的输出端分别与按键模块的输入端、驱动器的第一输入端以及I/O扩展模块的输入端连接；所述驱动器模块的第二输入端与所述I/O扩展模块的输出端连接，所述驱动器的输出端与被测器件安装插座的输入端连接；显示模块与所述计算模块的信号输出端连接；数据产生模块与所述计算模块的信号输入端连接。所述测试仪能够实现对多种芯片进行测试，功能多样，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 计算模块 输入端 驱动器 地址产生模块 输出端连接 输入端连接 双向连接 测试仪 输出端 存储空间分配器 集成电路测试仪 数据产生模块 芯片测试装置 本实用新型 驱动器模块 信号输出端 信号输入端 安装插座 按键模块 被测器件 存储模块 显示模块 单片 芯片 测试 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试仪，其特征在于：包括单片计算模块，存储模块通过存储空间分配器与所述计算模块双向连接，所述存储模块用于存储所述测试仪的运行程序以及测试和采集的数据；I/O扩展模块与所述计算模块双向连接，用于将所述计算模块产生的测试数据输出到外围模块，并将外围设备产生的信号输入到所述计算模块进行处理；地址产生模块的第一输入端与的输入端与所述计算模块的输出端连接，所述地址产生模块的输出端分别与按键模块的输入端、驱动器的第一输入端以及I/O扩展模块的输入端连接，用于产生与其相连接的模块所需的地址信号；所述驱动器模块的第二输入端与所述I/O扩展模块的输出端连接，所述驱动器的输出端与被测器件安装插座的输入端连接；所述按键模块与所述计算模块双向连接，用于输入控制命令；显示模块与所述计算模块的信号输出端连接，用于显示所述计算模块输出的数据；数据产生模块与所述计算模块的信号输入端连接，用于根据被测芯片的型号选通相应驱动，加载对应的测试数据；稳压电源与所述测试仪中需要供电的模块的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。/n
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