[实用新型]集成电路测试仪

说明书

本实用新型公开了一种集成电路测试仪，涉及芯片测试装置技术领域。所述测试仪包括单片计算模块，存储模块通过存储空间分配器与所述计算模块双向连接；I/O扩展模块与所述计算模块双向连接；地址产生模块的第一输入端与的输入端与所述计算模块的输出端连接，所述地址产生模块的输出端分别与按键模块的输入端、驱动器的第一输入端以及I/O扩展模块的输入端连接；所述驱动器模块的第二输入端与所述I/O扩展模块的输出端连接，所述驱动器的输出端与被测器件安装插座的输入端连接；显示模块与所述计算模块的信号输出端连接；数据产生模块与所述计算模块的信号输入端连接。所述测试仪能够实现对多种芯片进行测试，功能多样，使用方便。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试装置技术领域，尤其涉及一种集成电路测试仪。

背景技术

随着数字信号处理技术的飞速发展，数字集成电路的应用也越来越广泛。各类电子产品，比如计算机、工业自动化设备、部队电子技术保障设备、电子仪器仪表、数字通信设备、电子继电保护装置等电路构成都用到数字集成电路。当对这些设备进行维护和检测时，能够实时测量数字集成电路的性能，就可以便捷的对设备定期维护或排除故障；科研机构、高等院校、新产品开发部，在进行产品试验和产品开发时，也需要对数字集成电路进行功能测试，提高工作效率，缩短新产品开发的流程；各质检、计量、销售等部门需要检验新购数字集成器件的质量；因此采取可靠的测试仪器，判断数字集成电路的好坏就变的尤为重要。

数字集成电路发展非常迅速，产品的种类愈来愈多，常用的数字集成电路有通用型的集成电路（中小规模集成电路）产品、单片机、特定用途的集成电路产品等。大部分的电子产品都用到通用型的集成电路，可以说它无处不在，得到了广泛的应用。通用型集成电路按电路结构来分，可分成双极型（TTL型）和单极型（CMOS型）两大类。常用的TTL型集成电路有TTL54/55/74数字电路系列， CMOS数字集成电路常用的有CMOS4000系列。因此设计一套测试仪，能够可靠的测试这些常用系列集成电路和单片机的性能非常必要和重要。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是如何提供一种能够实现对多种芯片进行测试的集成电路测试仪。

为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案是：一种集成电路测试仪，其特征在于：包括单片计算模块，存储模块通过存储空间分配器与所述计算模块双向连接，所述存储模块用于存储所述测试仪的运行程序以及测试和采集的数据；I/O扩展模块与所述计算模块双向连接，用于将所述计算模块产生的测试数据输出到外围模块，并将外围设备产生的信号输入到所述计算模块进行处理；地址产生模块的第一输入端与的输入端与所述计算模块的输出端连接，所述地址产生模块的输出端分别与按键模块的输入端、驱动器的第一输入端以及I/O扩展模块的输入端连接，用于产生与其相连接的模块所需的地址信号；所述驱动器模块的第二输入端与所述I/O扩展模块的输出端连接，所述驱动器的输出端与被测器件安装插座的输入端连接；所述按键模块与所述计算模块双向连接，用于输入控制命令；显示模块与所述计算模块的信号输出端连接，用于显示所述计算模块输出的数据；数据产生模块与所述计算模块的信号输入端连接，用于根据被测芯片的型号选通相应驱动，加载对应的测试数据；稳压电源与所述测试仪中需要供电的模块的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。

进一步的技术方案在于：所述单片计算模块包括8031型单片机芯片U1，所述U1的31脚接地，所述U1的19脚分为两路，第一路与晶振的一端连接，第二路与电容C1的一端连接，所述U1的18脚分为两路，第一与晶振的另一端，第二路与电容C2的一端连接，电容C1的一端与电容C2的另一端连接；电源VCC分为两路，第一路与电阻R1的一端连接，第二路与二极管D的阴极连接，二极管D的阳极与电阻R1的另一端连接后分为两路，第一路经电容接地，第二路与或非门74LS02的输入端连接，所述或非门74LS02的输出端与所述U1的9脚连接，所述U1的32脚-39脚与地址锁存器芯片74LS373的输入端连接，所述地址锁存器芯片74LS373的输出端与数据存储芯片2764的输入端连接。