[实用新型]一种电子产品研发用密封性能检测装置有效
申请号: | 201920576246.1 | 申请日: | 2019-04-25 |
公开(公告)号: | CN210375532U | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 刘俊 | 申请(专利权)人: | 昆山昊晟光电科技有限公司 |
主分类号: | G01M3/02 | 分类号: | G01M3/02;F21V33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种电子产品研发用密封性能检测装置,涉及电子产品研发技术领域,包括箱体,所述箱体的上方设置有水箱,且箱体的上方位于水箱的一侧设置有增压泵,所述箱体的前侧转动连接有箱门,且箱体的内侧表面设置有照明箱,所述箱体的内侧位于照明箱的下方设置有加热管,且箱体的一侧贯穿设置有出水口。本实用新型设置有照明箱,能够在黑暗条件下通过照明箱提供的光照,正常观察箱内物品的工作状态,设置有固定装置,根据调节压板的高度从而能够应用于不同尺寸的电子产品,设置有转动装置,能够检测出电子产品在移动时产品本身的密封性是否会受影响,设置有加热管,能够检测出在不同的温度下,产品的气密性是否会受影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子产品 研发 密封 性能 检测 装置 | ||
【主权项】:
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