[实用新型]一种量子芯片测试装置有效
| 申请号： | 201920468637.1 | 申请日： | 2019-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN209927979U | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 李玲;朱美珍 | 申请（专利权）人： | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230008 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种量子芯片测试装置，涉及量子芯片检测装置领域，包括量子芯片放置台、探针装置和检测装置；所述量子芯片放置台表面开有若干用于放置量子芯片的卡槽；所述探针装置包括用于安装所述量子芯片放置台的探针座、至少一对探针和探针移动装置，所述探针固定在所述探针移动装置上，并在所述探针移动装置的带动下移动至所述卡槽的上方并与放置在所述卡槽内的量子芯片接触；所述检测装置与所述探针电连接，本实用新型能够在不对量子芯片造成任何破坏的情况下对大批量量子芯片进行快速有效的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 探针 芯片放置 移动装置 本实用新型 检测装置 探针装置 芯片 卡槽 芯片测试装置 芯片检测装置 探针固定 芯片接触 电连接 台表面 探针座 检测 移动 | ||
【主权项】：
1.一种量子芯片测试装置，其特征在于，包括量子芯片放置台、探针装置和检测装置；/n所述量子芯片放置台表面开有若干用于放置量子芯片的卡槽；/n所述探针装置包括用于安装所述量子芯片放置台的探针座、至少一对探针和探针移动装置，所述探针固定在所述探针移动装置上，并在所述探针移动装置的带动下移动至所述卡槽的上方并与放置在所述卡槽内的量子芯片接触；/n所述检测装置与所述探针电连接。/n
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