[实用新型]一种基于X射线源的γ剂量仪现场标校系统有效

专利信息
申请号: 201920168784.7 申请日: 2019-01-31
公开(公告)号: CN211478662U 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 过惠平;吕宁;吕汶辉;赵括;尚爱国;魏志浩;田晨扬;段中山;曹晓岩;马腾跃;潘登辉;龚朋彬;吕金旭 申请(专利权)人: 中国人民解放军火箭军工程大学
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 代理人: 包晓静
地址: 710025 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型属于电离辐射计量技术领域,提供了一种基于X射线源的γ剂量仪现场标校系统,设置有支架,X射线机通过螺栓与支架连接,前准直器通过螺栓与X射线机连接,监督电离室通过螺栓与前准直器连接,后准直器通过螺栓与监督电离室连接,过滤器通过螺栓与后准直器连接,探测器通过螺栓与支架连接,激光准直器通过螺栓与支架连接,升降台通过螺栓与移动架一连接,十字红外发射器通过螺栓与升降台连接,固定架通过螺栓与滑动门用铝制滑道连接,移动架二通过滑槽与滑动门用铝制滑道连接。本实用新型的X射线机上的X射线源能量低、可控,不工作时无放射性,对人员和环境无辐射危害,能够解决放射源管控严格、不便携带的现实难题。
搜索关键词: 一种 基于 射线 剂量 现场 系统
【主权项】:
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