[实用新型]一种基于X射线源的γ剂量仪现场标校系统有效

专利信息
申请号: 201920168784.7 申请日: 2019-01-31
公开(公告)号: CN211478662U 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 过惠平;吕宁;吕汶辉;赵括;尚爱国;魏志浩;田晨扬;段中山;曹晓岩;马腾跃;潘登辉;龚朋彬;吕金旭 申请(专利权)人: 中国人民解放军火箭军工程大学
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 代理人: 包晓静
地址: 710025 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 射线 剂量 现场 系统
【权利要求书】:

1.一种基于X射线源的γ剂量仪现场标校系统,其特征在于,所述的基于X射线源的γ剂量仪现场标校系统设置有:

支架;

X射线机通过螺栓与支架连接,前准直器通过螺栓与X射线机连接,监督电离室通过螺栓与前准直器连接,后准直器通过螺栓与监督电离室连接,过滤器通过螺栓与后准直器连接,探测器通过螺栓与支架连接,激光准直器通过螺栓与支架连接,升降台通过螺栓与移动架一连接,十字红外发射器通过螺栓与升降台连接,固定架通过螺栓与滑动门用铝制滑道连接,移动架二通过滑槽与滑动门用铝制滑道连接。

2.如权利要求1所述的基于X射线源的γ剂量仪现场标校系统,其特征在于,X射线机放置于起始端支撑平台上,X射线出射焦点位于导轨标尺的零点位置,前准直器固定于X射线机出射口位置,前准直器锥角位于与X射线出射焦点位置重合,中心轴线与X射线出射轴线重合,监督电离室固定于前准直器之后,中心轴线与X射线中心轴线位置重合,后准直器固定于监督电离室之后,过滤器固定于后准直器之后,参考仪器和待标定仪器分别放置于监测支撑平台上。

3.如权利要求2所述的基于X射线源的γ剂量仪现场标校系统,其特征在于,参考仪器和待标定仪器均采用高气压电离室,电离室最内侧为圆柱形中央阳极,通过绝缘支架固定在底座上,电离室外壳与底座连接,形成封闭的电离室空间,在电离室外侧罩一层不锈钢外壳。

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