[实用新型]LVDT位移传感器性能测试系统有效
| 申请号： | 201920164291.6 | 申请日： | 2019-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN209326558U | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 王欢;张鹏 | 申请（专利权）人： | 北京航顺泰达科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02;G01D18/00 |
| 代理公司： | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人： | 邹芳德 |
| 地址： | 101300 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种LVDT位移传感器性能测试系统，属于LVDT位移传感器性能测试系统技术领域，包括可编程逻辑器CPLD、可编程门阵列FPGA、DA/AD芯片；CPLD分别与FPGA、所述DA/AD芯片连接，CPLD还连接有ROM存储器，DA/AD芯片还连接LVDT电路；ROM存储器存储有标定数据；LVDT电路通过连接器连接计算机；还包括有电源，电源与所述LVDT电路电连接，电源与所述连接器电连接。本实用新型方波转化成正弦波，转化电路先通过高通滤波器将0‑3.3V方波中的直流部分滤除，然后通过有源低通滤波器留下相应频率的正弦波，经过由AD5453构成的可编程增益电路调节幅值，最终通过功率放大器提高了带载能力，检测精度高，满足检测需求；通过嵌入式FPGA实现了无需重复装卡LVDT位移传感器，省时省力，提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 性能测试系统 电路 电源 本实用新型 正弦波 方波 检测 连接器 芯片 可编程逻辑器 可编程门阵列 低通滤波器 电路电连接 高通滤波器 功率放大器 连接器连接 标定数据 带载能力 芯片连接 增益电路 电连接 可编程 嵌入式 滤除 省力 省时 装卡 转化 存储 计算机 重复 | ||
【主权项】：
1.一种LVDT位移传感器性能测试系统，其特征在于：包括可编程逻辑器CPLD、可编程门阵列FPGA、DA/AD芯片；所述CPLD分别与所述FPGA、所述DA/AD芯片连接，所述CPLD还连接有ROM存储器，所述DA/AD芯片还连接LVDT电路；所述ROM存储器存储有标定数据；所述LVDT电路通过连接器连接计算机；还包括有电源，所述电源与所述LVDT电路电连接，所述电源与所述连接器电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航顺泰达科技发展有限公司，未经北京航顺泰达科技发展有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201920164291.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
