[实用新型]一种矽晶片的硬度检测装置有效
| 申请号： | 201920112183.4 | 申请日： | 2019-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN209820983U | 公开（公告）日： | 2019-12-20 |
| 发明（设计）人： | 陈正青 | 申请（专利权）人： | 佛山市南海益晶科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/40 | 分类号： | G01N3/40;G01N3/04 |
| 代理公司： | 42241 武汉明正专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 张伶俐 |
| 地址： | 528000 广东省佛山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种矽晶片的硬度检测装置，包括底座，所述底座的上端固定有动力装置，所述动力装置的上端安装有控制箱，所述控制箱的下端安装有硬度测试压头，所述底座的上端等间距固定有多个缓冲装置，多个缓冲装置的上端共同设有连接板，所述连接板的上端设有移动台，所述移动台的上端两侧均设有滑槽，所述滑槽内安装有两个滑块，所述滑块上设有夹持装置，所述滑槽内的一端侧壁上贯穿设有螺杆。本实用新型能够将不同大小的矽晶片稳定固定，防止矽晶片测试时移位导致测量结果误差较大，方便根据测试需求将矽晶片移动，且能够防止固定时夹持过度将矽晶片损坏，同时能对矽晶片进行缓冲保护。 | ||
| 搜索关键词： | 矽晶片 上端 滑槽 底座 本实用新型 动力装置 缓冲装置 控制箱 连接板 移动台 滑块 测量结果误差 硬度检测装置 等间距固定 测试需求 缓冲保护 夹持装置 上端固定 硬度测试 移位 侧壁 夹持 螺杆 下端 压头 测试 贯穿 移动 | ||
【主权项】：
1.一种矽晶片的硬度检测装置，包括底座(7)，其特征在于：所述底座(7)的上端固定有动力装置(4)，所述动力装置(4)的上端安装有控制箱(1)，所述控制箱(1)的下端安装有硬度测试压头(3)，所述底座(7)的上端等间距固定有多个缓冲装置，多个缓冲装置的上端共同设有连接板(5)，所述连接板(5)的上端设有移动台(13)，所述移动台(13)的上端两侧均设有滑槽，所述滑槽内安装有两个滑块(12)，所述滑块(12)上设有夹持装置，所述滑槽内的一端侧壁上贯穿设有螺杆(10)，所述螺杆(10)的一端固定有转动轮(8)，两个转动轮(8)之间通过传动带(9)传动连接，其中一个螺杆(10)的一端转动连接在其中一个滑槽内的另一端侧壁上，另一个螺杆(10)的一端贯穿另一个滑槽内的另一端侧壁并延伸至移动台(13)的一端，且该螺杆(10)的一端固定有转盘，所述螺杆(10)上设有正向螺纹和反向螺纹，其中一个滑块(12)螺纹套接在螺杆(10)上设有正向螺纹的一端，另一个滑块(12)螺纹套接在螺杆(10)上设有反向螺纹的一端，所述移动台(13)的下端设有四个凹槽，所述凹槽内设有移动装置。/n
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