[实用新型]一款适合集束测试PCB板探针

摘要

本实用新型公开了一款适合集束测试PCB板探针，包括首尾相连的连接壳体、外导体和测试壳体，以及通过后端绝缘子、中间绝缘子和前端绝缘子连接在外导体内的信号针，信号针针头延伸出测试壳体；测试壳体的两个侧孔中设有针头延伸出测试壳体前端的接地针；在测试过程中由于法兰包裹外导体，法兰下压时，保证了完美接触PCB板测试点，接触良好，不偏心；射频探针在轴向和纵向的距离上都有一定的容差，实现了十六个射频探针能够同时测试。

主权项

1.一款适合集束测试PCB板探针，其特征在于，包括依次相连的连接壳体(1)、外导体(3)和测试壳体(9)，测试壳体(9)后端连接在外导体(3)前端的内孔中，外导体(3)后端连接在连接壳体(1)的内孔中；外导体(3)上套设有夹持在连接壳体(1)和测试壳体(9)之间的衬套(4)；衬套(4)内孔后端设有内凸台，外导体(3)和衬套(4)之间设有与内凸台相抵的外弹簧(7)；衬套(4)前端设置外凸台，衬套(4)上套设有与外凸台相抵的法兰(6)；测试壳体(9)前端开设两个侧孔,每个侧孔中依次装设有内弹簧(10)和接地针(12)及固定连接有用于对接地针(12)进行限位的挡圈(13),接地针(12)针头延伸出侧孔，接地针(12)针尾外径大于挡圈(13)的内径；连接壳体(1)、外导体(3)和测试壳体(9)分别内嵌有后端绝缘子(2)、中间绝缘子(8)和前端绝缘子(11)；后端绝缘子(2)、中间绝缘子(8)和前端绝缘子(11)上穿设有针头延伸出测试壳体(9)的信号针(5)，后端绝缘子(2)、中间绝缘子(8)和前端绝缘子(11)将信号针(5)分别与连接壳体(1)、外导体(3)和测试壳体(9)绝缘。