[发明专利]基于正交分析的表面切向磁场高精度测量系统及方法

摘要

本发明涉及一种基于正交分析的表面切向磁场高精度测量系统及方法，系统包括上位机、任意函数发生器、双极性功率放大器、多通道数据采集卡和微磁检测传感器，所述微磁检测传感器进一步包括磁路调整装置，所述磁路调整装置为一对关于“U”形磁芯的中线相互对称且垂直于微磁检测传感器的测量面的硅钢片，位于“U”形磁芯的两极靴之间；所述磁路调整装置的两片硅钢片的板高A、间距B、厚度C和提离距离D的尺寸通过正交实验法确定，由此提高材料表面切向磁场的测量精度，为磁特征信号的准确提取提供了借鉴。