[发明专利]一种内存测试方法及内存测试设备在审
| 申请号： | 201911382043.X | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN113053452A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 韩小兵;戴清海;钟衍徽 | 申请（专利权）人： | 中山市江波龙电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 黎坚怡 |
| 地址： | 528400 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种内存测试方法，包括：控制待测内存的至少一个工作电压和/或运行频率按照预设规则进行变化；以及在变化中的至少一个工作电压和/或运行频率下，控制执行至少一个图形算法，以对所述待测内存进行测试。本发明还提供相应的内存测试设备。本发明能够有效提高良品率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 测试 方法 设备 | ||
【主权项】：
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