[发明专利]磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法有效

专利信息
申请号: 201911377466.2 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN112447193B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 千叶宽幸 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: G11B5/02 分类号: G11B5/02;G11B20/18
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 万利军;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的实施方式提供能够高效地进行参数的再学习而能够使重试时间最小化的磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法。实施方式的磁盘装置具备读通道和控制部。读通道具有处理来自读头的输出的电路。控制部在从读通道的输出中检测到读错误的情况下,搜索在设定读通道的参数时成为训练读的对象的预定的扇区,对该搜索到的扇区进行训练读,通过训练读而使电路的参数变化,对错误扇区进行再次读。在此,预定的扇区是测定包含错误扇区的磁道内的各扇区的误码率值而具有相对于错误扇区的误码率值为一定范围内的误码率值且按预定扇区数以上连续配置的扇区。
搜索关键词: 磁盘 装置 错误 重试 方法
【主权项】:
暂无信息
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