[发明专利]磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法

说明书

本发明的实施方式提供能够高效地进行参数的再学习而能够使重试时间最小化的磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法。实施方式的磁盘装置具备读通道和控制部。读通道具有处理来自读头的输出的电路。控制部在从读通道的输出中检测到读错误的情况下，搜索在设定读通道的参数时成为训练读的对象的预定的扇区，对该搜索到的扇区进行训练读，通过训练读而使电路的参数变化，对错误扇区进行再次读。在此，预定的扇区是测定包含错误扇区的磁道内的各扇区的误码率值而具有相对于错误扇区的误码率值为一定范围内的误码率值且按预定扇区数以上连续配置的扇区。

本申请享受以日本专利申请2019-157085号(申请日：2019年8月29日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。

技术领域

实施方式涉及磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法。

背景技术

由于漂移写(Drift off write，DOW)、相邻磁道干扰(ATI)等而从周边受到了影响的扇区，与通常的扇区相比较，有时会产生信号输出的下降、噪声的增加、中心错位等，在从成为了这样的状态的错误扇区读数据的情况下，会成为容易发生读错误的状态。通常，读通道等的各种处理中所使用的参数在出厂前针对每个磁头、每个分区(zone)而调校为最佳值，但是，在错误扇区的情况下，如前所述处于与初始的状态迥异的状态，所以，成为了已经不能说是最佳的参数的状态。

因此，在对错误扇区再次读数据的读错误重试时，通过有意地使这些参数变化、或者使用错误扇区自身重新调整参数，来尝试救济。尤其是后者的方法非常有效，主要通过使用错误扇区使得读通道的FIR(Finite Impulse Response Filter，有限脉冲响应滤波器)、DDNP(Data Dependent Noise Predictive，数据相关噪声预测)维特比检测那样的模式(Pattern)依存的噪声修正功能的参数进行再学习，来获得高的错误救济率。

发明内容

本发明的实施方式提供能够高效地进行参数的再学习而能够使重试时间最小化的磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法。

一实施方式的磁盘装置具备磁盘、读头、读通道、以及控制部。读头从磁盘读数据。读通道具有处理来自读头的输出的电路。控制部在从读通道的输出中检测到读错误的情况下，搜索在设定读通道的参数时成为训练读的对象的预定的扇区，对该搜索到的扇区进行训练读，通过训练读而使电路的参数变化，再次读错误扇区。另外，预定的扇区是测定包含错误扇区的磁道内的各扇区的误码率(Error bit rate)值而具有相对于错误扇区的误码率值为一定范围内的误码率值、且按预定扇区数以上连续配置的扇区。

附图说明

图1是示出第1实施方式的磁盘装置的构成的一例的图。

图2是示出第1实施方式的R/W通道的读通道的构成的一例的图。

图3是示出第1实施方式的读错误的重试的处理的一例的流程图。

图4是示出第1实施方式的错误磁道的每个扇区的BER的测定结果的一例的图。

图5是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的BER值为一定范围内的BER值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。

图6是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的BER值为一定范围内的BER值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。

图7是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的BER值为一定范围内的BER值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。

图8是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的BER值为一定范围内的BER值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。

图9是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的BER值为一定范围内的BER值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。