[发明专利]一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置在审
| 申请号： | 201911358436.7 | 申请日： | 2019-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN111044760A | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 李玉学;阳秋光;许航 | 申请（专利权）人： | 贵州航天计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/067;G01R1/073;G06M1/27;G06M1/28 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 葛鹏 |
| 地址： | 550009 贵州省贵阳市*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置，包括两测试杆，两测试杆的测试端分别设有测试针，两测试针分别电性连有至少一根电缆，一根测试杆的测试端上还设有信号发生器，另一根测试杆的测试端上还设有与信号发生器相对的信号接收器，所述测试杆上还设有与信号接收器电性相连的显示屏、电源开关和计数清零复位开关。节约了人力成本，能够适用于多种规格SMD二端元件的测试和计数。本发明应用于电子元件测试技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 计数 功能 smd 元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
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