[发明专利]设备性能测试方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 201911348933.9 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN111124920A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 于振北 | 申请（专利权）人： | 北京金山安全软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 戎郑华 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提出一种设备性能测试方法、装置及电子设备，属于计算机应用技术领域。其中，该方法包括：检启动包含线程数量与待测试设备的中央处理器的内核数量相同的线程池；按照预设的规则，依次从待测试设备中选择一种处理器与中央处理器的一个内核协同，对测试数据集中的各条测试数据依次进行处理，其中，测试数据集中包括多条测试数据；根据待测试设备对测试数据集中全部测试数据的处理结果，确定待测试设备的性能。由此，通过这种设备性能测试方法，实现了通过数字化指标衡量设备AI性能的极限能力，有助于用户直观了解设备的AI性能。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 性能 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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