[发明专利]设备性能测试方法、装置及电子设备

说明书

本申请提出一种设备性能测试方法、装置及电子设备，属于计算机应用技术领域。其中，该方法包括：检启动包含线程数量与待测试设备的中央处理器的内核数量相同的线程池；按照预设的规则，依次从待测试设备中选择一种处理器与中央处理器的一个内核协同，对测试数据集中的各条测试数据依次进行处理，其中，测试数据集中包括多条测试数据；根据待测试设备对测试数据集中全部测试数据的处理结果，确定待测试设备的性能。由此，通过这种设备性能测试方法，实现了通过数字化指标衡量设备AI性能的极限能力，有助于用户直观了解设备的AI性能。

技术领域

本申请涉及计算机应用技术领域，尤其涉及一种设备性能测试方法、装置及电子设备。

背景技术

人工智能(Artificial Intelligence，简称AI)，是研究、开发用于模拟、延伸和扩展人的智能的理论、方法、技术以及应用的一门新的技术科学。AI的应用很广泛，机器翻译、智能控制、专家系统、机器人学、语言和图像理解、遗传编程机器人工厂、自动程序设计、航天应用、庞大的信息处理、储存与管理、执行化合生命体无法执行的或复杂或规模庞大的任务等等。

相关技术中，AI技术在电子设备中的应用快速发展，市面上的电子设备的AI性能正在快速提升。但是，不同厂商生产的电子设备，以及相同厂商生产的不同代产品的AI性能差异较大，并且不存在衡量设备AI性能的数字化指标，导致用户无法直观了解设备的AI性能。

发明内容

本申请提出的设备性能测试方法、装置及电子设备，用于解决相关技术中，不同厂商生产的电子设备，以及相同厂商生产的不同代产品的AI性能差异较大，并且不存在衡量设备AI性能的数字化指标，导致用户无法直观了解设备的AI性能的问题。

本申请一方面实施例提出的设备性能测试方法，包括：启动包含线程数量与所述待测试设备的中央处理器的内核数量相同的线程池；按照预设的规则，依次从所述待测试设备中选择一种处理器与所述中央处理器的一个内核协同，对测试数据集中的各条测试数据依次进行处理，其中，测试数据集中包括多条测试数据；根据所述待测试设备对所述测试数据集中全部测试数据的处理结果，确定所述待测试设备的性能。

可选地，在第一方面实施例一种可能的实现形式中，所述启动包含线程数量与所述待测试设备的中央处理器的内核数量相同的线程池之前，还包括：

确定所述待测试设备的中央处理器是否为多核处理器、且还包括至少一种其他类型处理器。

可选地，在第一方面实施例另一种可能的实现形式中，所述按照预设的规则，依次从所述待测试设备中选择一种处理器，包括：

从所述待测试设备当前空闲的各处理器中选择处理速度最快的一种处理器。

可选地，在第一方面实施例再一种可能的实现形式中，所述根据所述待测试设备对所述测试数据集中全部测试数据的处理结果，确定所述待测试设备的性能，包括：

根据所述待测试设备对所述全部测试数据的处理时间及所述测试数据集中包含的测试数据量，确定所述待测试设备的最快处理速度。

可选地，在第一方面实施例又一种可能的实现形式中，所述测试数据集中还包括与每条测试数据对应的标注数据；

所述对测试数据集中的各条测试数据依次进行处理之后，还包括：

根据所述测试数据集中每条测试数据对应的处理结果与对应的标注数据的匹配度，确定所述待测试设备的准确度。

可选地，在第一方面实施例又一种可能的实现形式中，所述对测试数据集中的各条测试数据依次进行处理，包括：

依次从所述待测试设备中选择一种处理器与所述中央处理器的一个内核协同运行预设的处理模型，对测试数据集中的各条测试数据依次进行处理。