[发明专利]一种双光子扫描结构光显微成像方法及装置有效

专利信息
申请号: 201911308190.2 申请日: 2019-12-18
公开(公告)号: CN110954523B 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 邵永红;汪磊;郑晓敏;王美婷;屈军乐 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G02B21/00
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种双光子扫描结构光显微成像方法及装置,通过将激光调制成光强随时间按正弦函数周期性变化的激发光,并使用调制后的激发光对待成像样品进行扫描,形成扫描结构光激发;采集待成像样品被激发光扫描激发产生的荧光信号,得到荧光信号对应的非正弦荧光结构光图像,并提取荧光结构光图像的频率分量;根据不同方向上的荧光结构光图像的频率分量的叠加重构得到待成像样品的超分辨率图像,本实施例的方法不需要对荧光饱和激发和高功率的附件STED光就可以实现比线性结构光双光子超分辨显微镜更高的分辨率成像,分辨率比衍射极限提高3倍甚至更高,因此可以满足几十纳米甚至更高的双光子荧光成像需求,提高双光子荧光图像分辨率。
搜索关键词: 一种 光子 扫描 结构 显微 成像 方法 装置
【主权项】:
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