[发明专利]硅微陀螺仪振动状态角位移误差测试方法有效
| 申请号： | 201911288399.7 | 申请日： | 2019-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN111121819B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 吕东;王虹;张萌;吴妍;沈笛宇 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 吴茂杰 |
| 地址： | 210094 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种硅微陀螺仪振动状态角位移误差测试方法，测量精度高。本发明方法包括如下步骤：(10)共轴放置：将角振动台固定在转台轴心处，将硅微陀螺仪固定安装在角振动台机内；(20)实验前零漂信号测量：连续采集在实验前零漂状态下硅微陀螺仪的零漂输出信号；(30)旋转状态信号测量：采集不同转速下硅微陀螺仪的旋转状态输出信号；(40)实验后零漂信号测量：连续采集在实验后零漂状态下硅微陀螺仪的零漂输出信号；(50)标度因数获取：计算得到标度因数；(60)振动状态信号测量：采集不同频率、不同振幅下硅微陀螺仪的振动状态输出信号；(70)角位移误差计算：根据振动状态输出信号和标度因数，计算得到角位移误差。 | ||
| 搜索关键词： | 陀螺仪 振动 状态 位移 误差 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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