[发明专利]一种结构光干涉测量方法和装置在审

专利信息
申请号: 201911276924.3 申请日: 2019-12-12
公开(公告)号: CN110988380A 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 王健;方良;万镇宇 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01P3/36 分类号: G01P3/36
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种结构光干涉测量方法和装置,方法利用结构光干涉,实现对运动物体的平移与旋转运动速度大小和方向的全矢量运动信息的同时测量。装置包括激光器、分束器、反射镜、扩束器、反射式器件、合束器和检测装置,激光器输出高斯光,分束器将高斯光分为探测光与参考光,扩束器调整探测光的光斑尺寸,反射式器件附着在运动物体的表面产生结构光,合束器将携带物体运动信息的结构光与参考光干涉叠加得到干涉光场,检测装置对干涉光场进行探测,实现获取运动物体的全矢量运动信息。本发明突破了传统方案无法同时测量物体的平移与旋转运动速度的全矢量运动信息的限制,其在光学测量和传感等方面具有广泛的应用前景,填补了相关技术领域的空白。
搜索关键词: 一种 结构 干涉 测量方法 装置
【主权项】:
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