[发明专利]一种面向存储器特征的增强型校验纠错装置有效
| 申请号： | 201911271305.5 | 申请日： | 2019-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN111124741B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 颜世云;杨剑新;尹飞;班冬松 | 申请（专利权）人： | 上海高性能集成电路设计中心 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙) 31233 | 代理人： | 宋缨;钱文斌 |
| 地址： | 200120 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种面向存储器特征的增强型校验纠错装置，包括：算法编码模块，设置在存储器的写通路上，用于根据M位数据生成N位校验码，并把数据位和校验位写入存储器，其中，校验码包括CRC校验码和偶校验码；所述算法解码模块，设置在存储器读通路上，用于根据K位数据进行以颗粒为单位的校验纠错；所述接口模块，一侧分别与算法编码模块和算法解码模块相连，另一侧与存储器相连，用于将算法编码模块输出的K位数据按照存储器颗粒个数进行分组，以及将存储器接口上的K位数据以每组16位的方式分成T组实现数据重映射。本发明能够对某个存储器颗粒进行任意纠错。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 存储器 特征 增强 校验 纠错 装置 | ||
【主权项】：
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