[发明专利]组织参数监控方法、装置、成像系统及介质有效

专利信息
申请号: 201911265477.1 申请日: 2019-12-11
公开(公告)号: CN110988764B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 郑海荣;刘新;乔阳紫;邹超;孟德;程传力;帖长军;文剑洪 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院
主分类号: G01R33/54 分类号: G01R33/54;A61B5/055;A61B8/00;A61B8/08
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种组织参数监控方法、装置、成像系统及介质,该方法包括:获取实施完编码时序对应的编码脉冲信号的目标组织的磁共振数据以得到参考磁共振图像;获取实施完位移准备序列对应的各脉冲信号的目标组织的磁共振数据,以得到定量磁共振图像,其中,位移准备序列应用于成像序列之前,并包括用于生成高强度聚焦脉冲的超声时序以及用于将目标组织因高强度聚焦脉冲产生的位移信息编码到纵向磁化矢量上的编码时序;根据参考磁共振图像的幅值信息、定量磁共振图像的幅值信息以及主磁场不均匀性引起的相位改变确定目标组织的位移定量结果。解决了现有磁共振声辐射力成像技术经颅定焦时,超声能量在颅内沉积过多的问题。
搜索关键词: 组织 参数 监控 方法 装置 成像 系统 介质
【主权项】:
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