[发明专利]一种测量静磁力的方法及装置有效
| 申请号： | 201911262890.2 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111025207B | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 韩维强;白乐 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R33/038 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量静磁力的方法及装置，该方法为：在永磁体和导磁柱之间，放置不同厚度阻隔片，拨动拨杆使得弹簧秤位置下降，并且读数小于0，然后拨杆微转动螺杆提拉弹簧秤，使得弹簧秤的读数取得最大值，此时弹簧秤读数为对应相应厚度的阻隔片厚度也就是永磁体和导磁体之间空气间隔的静磁力。所采用的装置包含：支撑系统、拉力测量系统、静磁场固定系统等部分构成。静磁场固定系统：由两个静磁场支撑块及两个压块构成，压块将含有永磁体的反射镜固定于静磁场支撑块上。本发明提出了一种静磁力的测量方法和测量装置，并通过测量给出了一种实例的静磁力学模型，应用在永磁体和软磁材料之间静磁力的测量，也可以应用在拉应力测量等场合。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 磁力 方法 装置 | ||
【主权项】：
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