[发明专利]一种测量X射线能量的装置及方法有效
| 申请号： | 201911197922.5 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN110794448B | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 朱常青;王进光;冯杰;何雨航;陈黎明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京市英智伟诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11521 | 代理人： | 刘丹妮;姚望舒 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种利用金属滤片测量X射线能量的装置及方法。本发明提供的方法采用模块化的设计方案，非常有利于拆卸和组装，可以很方便地用来测量X射线能量。利用不同种类和厚度滤片的组合方式，既能实现对0～90keV能段内X射线光子数的精确测量，又能对大能量范围0～300keV内的X射线进行较为精确地计算。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 射线 能量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量X射线能量的装置，其特征在于，所述装置包括：铅屏盒、IP支撑板、金属滤片支撑板和一组或多组金属滤片，其中所述金属滤片两两一组；/n优选地，所述装置具有2～10组，优选为5～7组金属滤片；/n并且，当所述装置具有多组金属滤片时，所述多组滤片堆栈排布于所述金属滤片支撑板上。/n
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