[发明专利]一种对于BLE射频收发机系统的测试平台及IQ失配测试方法有效
| 申请号： | 201911170384.0 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN110943791B | 公开（公告）日： | 2022-10-14 |
| 发明（设计）人： | 李博文 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29;H04W4/80 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家镇未*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种对于BLE射频收发机系统测试平台以及一种基于该平台的IQ失配测试方法。此测试平台采用BLE RF测试板与BLE FPGA实验板相连，利用一台笔记本电脑的SPI配置软件配置芯片上的RF寄存器；再利用安装在笔记本电脑上的3VT软件读写FPGA中数字基带的寄存器配置字，完成FPGA的配置。之后利用Signal Generator发送BLE数据包，通过读取FPGA内寄存器值计算接收到数据包数量进行BLE RF芯片接收机性能测试；利用带有频谱仪接收数据，并通过其上的BLE插件进行BLE RF芯片发射机性能测试。基于该平台可实现一种IQ失配测试方法，根据BLE协议，分别利用在channel频点和镜像频点处输入单tune信号的方式，再利用公式计算IMRR，即IQ mismatch程度参量。此平台可以实现BLE射频收发机系统的深入测试分析，为BLE射频收发机系统Debug阶段提供了良好的测试条件，同时IQ失配测试方法可在没有基带正交信号测试接口时进行失配计算。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 对于 ble 射频 收发 系统 测试 平台 iq 失配 方法 | ||
【主权项】：
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