[发明专利]一种对于BLE射频收发机系统的测试平台及IQ失配测试方法有效

专利信息
申请号: 201911170384.0 申请日: 2019-11-26
公开(公告)号: CN110943791B 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 李博文 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15;H04B17/29;H04W4/80
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家镇未*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 对于 ble 射频 收发 系统 测试 平台 iq 失配 方法
【权利要求书】:

1.一种对于BLE射频收发机系统的IQ失配测试方法,该方法基于一种对于BLE射频收发机系统的测试平台,该测试平台主要包括BLE RF测试板、BLE FPGA实验板、两台笔记本电脑,其中:BLE RF测试板与BLE FPGA实验板相连,一台笔记本电脑配置软件通过SPI接口与BLE RF测试板相连并通过配置软件完成BLE RF测试板上RF芯片的配置;另一台笔记本电脑通过JTAG口下载BLE FPGA实验板的bit文件,并利用安装在该笔记本电脑上的3VT软件,通过UART口读写BLE FPGA实验板中数字基带的寄存器配置字,完成FPGA的配置,其特征在于,所述IQ失配测试方法,实现在没有基带正交信号测试接口引出,进而无法直接对基带正交信号进行测试时,根据BLE协议,在接收机链路天线输入端,根据不同需求分别在信道频点处和信道镜像频点处输入不同功率的单tune信号,列出两种情况下ADC I/Q两路输出信号幅值,将两种情况得到的IMRR相加后除以2,求得反应IQ失配的关键参数镜像抑制比IMRR。

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