[发明专利]基于条纹投影的平面度测量方法在审

专利信息
申请号: 201911169024.9 申请日: 2019-11-25
公开(公告)号: CN110864650A 公开(公告)日: 2020-03-06
发明(设计)人: 孙长库;周舵;王鹏 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 刘国威
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及三维视觉测量技术,为满足快速全场地对工件测量平面度的需求,解决平面度测量技术中测量速度、精度与环境适应性之间的矛盾。本发明,基于条纹投影的平面度测量方法,利用小型投影仪、工业相机和计算机实现,安装偏振片;投影仪非线性响应预矫正;计算机生成标准正弦条纹传输给投影仪投射;相机捕捉投射在被测物表面的变形条纹;计算机处理条纹,通过条纹的四步相移计算折叠相位;将折叠相位展开;通过对相位与高度关系的标定,得到被测面的点云;处理点云,提取点云中的特定被测平面点云;对提取的特定点云作处理得到理想参考平面;计算距离参考面的两个极限点,进而计算出平面度误差。本发明主要应用于三维视觉测量场合。
搜索关键词: 基于 条纹 投影 平面 测量方法
【主权项】:
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