[发明专利]非侵入性定量多层评估方法和所得多层组件在审

专利信息
申请号: 201911164197.1 申请日: 2019-11-25
公开(公告)号: CN111288901A 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 约翰尼斯·克莱门斯·沙布;索菲·贝蒂·克莱尔·杜瓦尔;皮耶罗-丹尼尔·格拉索;朱利安·雷内·安德烈·齐默尔曼;诺伯特·卢克 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;F01D5/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 初明明;林毅斌
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明题为“非侵入性定量多层评估方法和所得多层组件”。本公开提供了一种分析多层组件(100)的层厚度的方法。该方法包括:在多层组件(100)的表面(154)上的选定位置处,将具有预定几何形状的开口(120)部分地形成到多层组件(100)中。多层组件(100)包括多个材料层,所述多个材料层包括基底(104)和粘结涂层(110)。开口(120)暴露包括基底(104)的多个材料层中的每个。可增加暴露的多个材料层的对比度。使用数字显微镜(150)在开口(120)中形成暴露层的图像(152),并且根据图像(152)并基于开口(120)的预定几何形状来计算粘结涂层(110)的厚度、耗尽层(118)的厚度\和/或氧化物层(116)的厚度。修复开口(120)允许多层组件(100)在测试之后用于预期目的,例如在气体涡轮中重新安装和重复使用。
搜索关键词: 侵入 定量 多层 评估 方法 所得 组件
【主权项】:
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