[发明专利]浅覆盖层区矿产勘查大比例尺地质填图方法在审
| 申请号： | 201911149048.8 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN110853118A | 公开（公告）日： | 2020-02-28 |
| 发明（设计）人： | 吴文飞;胡加昆;李星;倪尔建;肖静珊;朱政坤;陈子聪 | 申请（专利权）人： | 云南冶金资源股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T11/20 | 分类号： | G06T11/20;G06T11/40;G01C15/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 650599 云南省*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明公开了浅覆盖层区矿产勘查大比例尺地质填图方法，所述方法包括以下步骤：根据所需填图的比例尺，按行业规范进行布线测量，选取合理的路线间距；在各路线上按行业规范分别选取点开挖探坑，探坑之间的间距依据实测剖面的比例尺确定；通过探坑揭露出的基岩残积层、基岩层中的地质现象按照行业规范进行地质描述、记录，然后根据地质描述、记录对地质体归类划分，完成上述工作后回填探坑；对多条路线上的多个探坑完成数据采集后，所采集的地质点按坐标标记在地形图上。本发明采用挖探坑的方法，揭开覆盖层，根据揭露的基岩露头、残积层、坡积层、风化层等进行地质填图，解决了基岩露头少或无基岩露头区域的地质填图问题。 | ||
| 搜索关键词： | 覆盖层 矿产 勘查 比例尺 地质 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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