[发明专利]一种非接触式空间点位测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 201911143111.7 申请日: 2019-11-20
公开(公告)号: CN110849273A 公开(公告)日: 2020-02-28
发明(设计)人: 刘刚;吕圣炜;代立扬;陆智健;袁新然;徐钊 申请(专利权)人: 上海电力大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01S17/08;G01B11/00
代理公司: 南京禹为知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32272 代理人: 吴肖敏
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种非接触式空间点位测量方法及装置,其包括,步骤一:确定空间内的第一目标点A和第二目标点B;步骤二:选定观测点O,设定基准面M;步骤三:测量出观测点O与第一目标点A之间的直线距离L1,并测量出该两点所在方向线与基准面M之间的第一竖直角α;步骤四:测量出观测点O与第二目标点B之间的直线距离L2,并测量出该两点所在方向线与基准面M之间的第二竖直角β;步骤五:测量出观测点O分别至两个目标点的两条方向线的水平角γ;步骤六:基于上述数据并通过余弦定理求得第一目标点A与第二目标点B之间的距离L3。本发明能够解决工程施工现场中多种测量场景不便操作仪器的情形,且能够测量出空间任意两个目标点之间的距离。
搜索关键词: 一种 接触 空间 测量方法 装置
【主权项】:
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